產品詳情
簡單介紹：
布魯克光譜為您的研究應用提供各種實驗室傅立葉紅外光譜儀。德國布魯克研究級傅立葉變換紅外光譜儀有多款種型號及配置如：INVENIO,VERTEX系列,IFS 125系列,CryoSAS,SiBrickScan等，可滿足各種不同應用的需求。這里為您展示了多款德國布魯克研究級傅立葉變換紅外光譜儀產品圖片、產品簡介等信息，歡迎點擊查看。如您欲了解更多德國布魯克紅外光譜儀信息，可聯系上海鑄金分析儀器有限公司。上海鑄金期待與您交流，共同進步。
詳情介紹：
德國布魯克研究級傅立葉變換紅外光譜儀
布魯克光譜為您的研究應用提供各種實驗室傅立葉紅外光譜儀INVENIO 具有創 新技術及其智能精巧的設計為新一代傅立葉變換紅外光譜儀樹立了標準；VERTEX 系列光譜儀提供了**遠見的可升級光學平臺，盡您所想的靈活設計；IFS 125 系列 傅立葉紅外光譜儀是傅立葉紅外領域*優異的研究工具，它是世界上分辨率*高的上等商用紅外光譜儀；CryoSAS 是半導體材料質量控制專用機型，主要應用在光伏和電子工業領域；SiBrickScan 是唯壹一款專用于定量分析硅錠的氧填隙原子從而得出濃度分布的傅立葉紅外譜儀系統；CONFOCHECK是一款專注于水中蛋白質研究的傅立葉紅外光譜儀，它非常適合于研究蛋白質的穩定性和蛋白質的構象；PMA 50 模塊具有極高的靈活性和敏感度，適用于連接偏振調制紅外光譜應用，比如偏振調制掠角反射實驗（PM-IRRAS）及手性分子振動（VCD）；TGA-FT-IR 模塊上乘地結合了定量分析的熱重分析儀和定性分析的紅外光譜儀。
一、 德國布魯克研究級傅立葉變換紅外光譜儀入門級產品INVENIO
適用于常規紅外和多光譜研究級應用的選擇INVENIO 是布魯克推出的研究級傅立葉變換紅外（FTIR）光譜儀的入門級產品，以實現要求嚴苛的分析與研發應用。新技術及其智能精巧的設計為新一代傅立葉變換紅外光譜儀樹立了標準。。新的光路設計將帶來優異的信噪比、較寬的光譜范圍（覆蓋從遠紅外至紫外/可見光譜區）和*高的靈活性，適用于各種復雜的實驗配置。
?集成觸控面板
您可以選擇集成觸控面板，輕松完成研發級工作。該觸控面板不僅可左右移動，而且還能沿兩個軸傾斜。觸控面板PC 中安裝了專用的 OPUS-TOUCH R&D 軟件，有助于簡化工作流程和實現直觀操作。在優異研究應用工作中，還可連接臺式電腦。
?MultiTect? 檢測器技術
讓人難以置信但千真萬確的事實是，布魯克新型的 MultiTect? 檢測器技術可同時自動控制多達 5個室溫檢測器。MultiTect? 檢測器單元可配置諸如DTGS、InGaAs、硅二極管或 GaP 等各種室溫傅立葉變換紅外（FTIR）檢測器，從而覆蓋從遠紅外至紫外/可見光的整個光譜區間。信號將由一個 24 位動態區間的雙通道 ADC 直接進行數字化。額外的 DigiTect? 檢測器插槽，可用于安裝 MCT 或其它特殊檢測器。
?Transit? 測量通道
INVENIO 可選擇性地配置一個額外的透射通道，這樣就無需移除主樣品室中的大型附件裝置，從而讓您能夠快速、方便地進行中紅外光譜的測量。Transit? 通道中包含一個專用的中紅外DTGS檢測器，可以安裝用于壓片樣品的支架、用于薄膜樣品的磁性樣品架、用于各類扁平狀樣品的夾具，以及大多數液體池附件。結合 MultiTect? 與DigiTect? 技術，INVENIO 可配置多達7個內部檢測器，并可通過軟件來自動選擇這些檢測器。
?光譜區間擴展
INVENIO 可選擇性地配備光源、任意數量的分束器和檢測器，已覆蓋15 cm 至 28,000 cm，也就是從超遠紅外至中、近紅外，再至可見光和紫外光的整個光譜區間。得益于長久準直的 RockSolid 干涉儀，布魯克獨有的 MultiTect 檢測器技術，多個內部與外部光源位置和專用于多個光譜區間的光學元件，譜區擴展變成了一項十分簡單的任務。
?獨特的布魯克FM技術
布魯克的FM遠中紅外技術由其獨有的超寬區間分束器和寬區間DTGS檢測器組成。通過一次性測量，無需更換任何光學元件，即可生成完整的遠紅外與中紅外光譜。結合標準內部紅外光源與FM元件，足以覆蓋從6000 cm-1 to 80 cm-1的寬區間。
?新一代智能型研究級光譜儀
INVENIO 的設計體現在多個方面，例如，樣品室中用于方便更換附件的增強型 QuickLock 功能、用于自動識別的電子編碼窗片和樣品支架、用于驗證與定制專用濾光器的8檔濾光器輪，以及用于高靈敏度檢測器或用于衰減外部光源或激光的內部 5 級自動衰減器輪。新一代電子單元內置 CPU，非常強大，并為日后各種升級與功能擴展做了鋪墊。此外，INVENIO 的光學元件可隨時進行多個光譜范圍的升級，這樣，您只需購買相應光學元件（光源、分束器和檢測器）即可完成光譜范圍的擴展。
二、德國布魯克研究級傅立葉變換紅外光譜儀 VERTEX
VERTEX系列傅立葉紅外光譜儀集布魯克光譜事業部40年來技術創 新與發展之大成，將紅外光譜技術推向一個新的高峰。
VERTEX系列建立在完全可升級、設計高度靈活的光學平臺之上，具有一系列廣泛的功能，包括布魯克人工智能網絡 (BRAIN)、自動元件識別 (ACR)、即插即用以太網連接、自動附件識別功能 (AAR) 等。
VERTEX 70v 光譜儀采用 RockSolid? 長久準直高性能干涉儀，能滿足從常規分析測量到優異科研領域的各種應用需求。采用 UltraScan? 真正準直磚利干涉儀的 VERTEX 80 和 VERTEX 80v 是針對業內*前沿的科研應用設計的，它具備極高的光譜分辨率、能實現目前業內*高水平的快速掃描和步進掃描測量，能在*廣的光譜范圍內提供**的性能。VERTEX 70v 及 VERTEX 80v 全真空系列光譜儀徹底杜絕了大氣吸收對紅外測量的干擾，進一步提高光譜質量。
1、 VERTEX 70系列
VERTEX70系列傅立葉紅外光譜儀，采用全數字化系統，適合各種優異研發級應用。**創_新意義的設計成就了該系列譜儀優良的靈活性和**的性能。數據采集使用delta-sigma自激型數/模轉換器，該轉換器具備真正的24位ADC動態范圍。布魯克先進磚利技術DigiTect將此數模轉換器與檢測器自帶的電子前置信號放大器整合到一起。*大限度地避免了外界模擬信號對光譜的干擾，確保了出色的信噪比。
全真空光學臺設計
其全真空的光學設計，使VERTEX 70在中紅外、近紅外及遠紅外譜區具備*高的靈敏度，使用戶無需再擔心水蒸氣或二氧化碳的吸收會干擾或覆蓋譜圖中極弱的特征信號。該真空譜儀已被廣泛應用于納米科學領域，并成功獲取了亞單分子層薄膜的信息。
VERTEX FM中遠紅外寬譜測試功能
全新的VERTEX FM功能使VERTEX 70(v)成為世界上**臺可以一次測試覆蓋整個中、遠紅外光譜范圍（即6000-80cm-1 ，真空系列可達50cm-1）的紅外光譜儀。
極寬的譜區擴展
VERTEX 70系列結合不同的光學器件，使譜區可以覆蓋從太赫茲15 cm-1起(VERTEX 70v 從10 cm-1起)、中紅外、近紅外、可見光直至紫外光區28,000 cm-1這一極寬的范圍。預準直的光學器件和長久準直的RockSolidTM干涉儀，讓擴展譜區和儀器維護變得更加簡單快捷。
BRAIN：布魯克人工智能系統 (Bruker Artificial Intelligence Network)
布魯克人工智能系統（BRAIN）包含自動識別測量附件（AAR）、自動識別光學配件（ACR）、自動調用及檢查測量參數，大大降低了傅立葉紅外光譜測量的難度，節省了實驗時間，對各種，甚至包括優異科研在內的應用領域，都是同樣的便捷可靠。另外，實時在線監控系統徹底簡化了對儀器工作狀態和性能指標的監測工作。一體化的OPUSTM軟件包將全 面支持上述功能。
即插即用：使用簡便
無論何時何地，只要插上電源，連接以太網，VERTEX 70系列譜儀即可開始正常工作。該系列譜儀采用了以太網式連接，客戶可以通過局域網或互聯網對譜儀進行遠程操控。
布魯克公司的VERTEX 70和VERTEX 70v優異研究級傅立葉變換紅外光譜儀以其**的性能和無以倫比的靈活性，成為當前常規分析應用以及**科學研究的優選。
2、 VERTEX 80系列
全新的 VERTEX 80 和真空型 VERTEX 80v 傅立葉變換紅外光譜儀采用動態校準 UltraScan? 干涉儀，提供*大光譜分辨率。精 確的、真正無摩擦的空氣軸承掃描儀保證了*佳的靈敏度和穩定性。
?新的UltraScanTM磚利干涉儀
VERTEX 80 及 VERTEX 80v 均采用*新的真正準直的UltraScanTM磚利干涉儀，該干涉儀可實現極高的光譜分辨率。高精度的線性氣動軸承及超高質量的光學反射鏡保證了儀器達到*出色的靈敏度和穩定性。VERTEX適用于各種極限條件下的研究工作，如：高分辨率測試、超快速掃描、步進掃描及UV擴展譜區的測量。布魯克公司獨特的數字化DigiTectTM數據采集磚利技術有效防止外部信號干擾，確保了優良的信噪比。
?臺式真空光譜儀
VERTEX 80v 的全鑄鋁光學底座及全真空型光學臺設計使譜儀具備了更高的穩定性。大氣中的水汽吸收在真空環境下被消除，靈敏度及穩定性得到進一步提高。在遠紅外和太赫茲波段該特色尤為突出，并意義重大。結合*新的全自動分束器更換器（BMS-c），用戶無需打斷真空、通過軟件控制便能實現譜區的切換和擴展。
三、 德國布魯克研究級傅立葉變換紅外光譜儀IFS 125系列
IFS125高靈敏度傅里葉紅外光譜儀系列是傅立葉紅外領域優異的研究工具，它是世界上分辨率極高的頂 級商用紅外光譜儀。IFS 125系列光譜儀， 優化了光譜儀的每一個部件， 以實現接近理論極限的至高靈敏度。 它提供業內： 高的光譜分辨率——優于0.001cm-1， 高的譜儀分辨能力——優于106， 寬的 波 譜 范 圍 ——從 遠 紅 外 /太 赫 茲 的 5cm - 1到 紫 外 區 域 的50,000cm-1。 車載式設計的IFS125/M紅外光譜儀專門用于氣體吸收的分析研究， 尤其是大氣環境的氣體研究及應用。
作為資 深的紅外光譜儀制造廠商，布魯克公司一直保持著世界上高的光譜分辨率和高的精度。IFS125HR傅里葉紅外光譜儀光程差可以達到11.7米，是市場上一款能提供超高分辨率的紅外光譜儀。 這種超高分辨率在大氣研究中用于同溫層痕量氣體、大氣中優良譜線強度、通過大氣的輻射轉移；在物理研究中為 數據庫中的參考光譜提供高分辨振轉光譜、研究低溫下分子晶體、研究分子動力學、空心陰極分子發射、超低溫下半導體的痕量雜質和磁電效應等基礎研究。
四、 德國BRUKER 布魯克CryoSAS超低溫硅的質量控制系統
CryoSAS超低溫硅測試分析系統是半導體材料質量控制專用機型，主要應用在光伏和電子工業領域超低溫硅分析控制。針對光電和半導體工業領域超高靈敏度和較低溫度的嚴苛要求， 布魯克公司特別設計的超低溫PL光致發光測試系統和CryoSAS超低溫硅測試分析系統無疑是行業內無以倫比的領軍產品。 PL用于III-V族中痕量雜質的測定， 硼和磷的*低檢測極限可以達到1ppta。 而CryoSAS也已經成為全球硅生產行業專用測試儀器的金 標準。
CryoSAS超低溫硅測試分析系統傅里葉拉曼光譜儀是一款全自動超低溫硅分析系統， 用于太陽能電池級硅和電子級硅中的雜質定量分析。根據ASTM/SEMI等國際標準， CryoSAS可以定量測試硅中碳、氧以及其他痕量雜質（如硼、 磷和砷等）。與經典的化學方法相比， 這種方法靈敏度更高， 測量更快捷， 而且不破壞樣品， 儀器操作簡單，不需要液氦， 符合現代高效質量控制的要求。
?半導體專用分析光譜儀CryoSAS
CryoSAS是布魯克光譜公司生產的專門用于硅材料分析的一體化的低溫檢測系統。
CryoSAS上乘地將高性能的布魯克FT-IR光譜技術與現代化與方便實用的低溫閉循環致冷系統結合在一起，擺脫了通常進行高靈敏度檢測時對液氦的依賴。CryoSAS的全部組件都采用了先進的一體化和人性化的結構設計理念，使得這樣的系統能夠適應硅材料生產中的不同使用環境。
五、 德國布魯克研究級傅立葉變換紅外光譜儀SiBrickScan
SiBrickScan (SBS)，**款at-line FTIR儀器，它可以定量分析硅錠的氧填隙原子。該系統使得硅晶片生產商超前邁進了一大步。不像之前的方法，SBS無需樣品前處理，可直接進行檢測。
